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Nicht zerstörerische Tests von Strukturen durch Ultraschallmethode

Anzahl Durchsuchen:0     Autor:Site Editor     veröffentlichen Zeit: 2019-10-23      Herkunft:Powered

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Mit der Ausbreitung von Ultraschallvibrationen im Medium ist seine Essenz in der mechanischen Schwingung im elastischen Medium in Form von Wellen ausbreitet. Im Allgemeinen wird berücksichtigt, dass seine Frequenz über 20 kHz liegen sollte. Ultraschall-nicht-zerstörerische Tests, die üblicherweise bei 0 4 bis 5 MHz verwendet werden. Ultraschall wird für die Schadenserkennung verwendet:

1 Wenn sich die Ultraschallwelle im Medium ausbreitet, wird die Grenzfläche umgekehrt.
2 Die Ultraschalldirektivität ist gut, desto höher ist die Frequenz, desto besser die Direktivität.
3 Ultraschallausbreitungsenergie ist groß und die Penetrationskraft verschiedener Materialien ist besser und stark. Im Folgenden wird hauptsächlich Ultraschallpulsreflexionskräftigkeiten, zerstörungsfreie Tests einführt.


1 Ultraschallsignal (sehr schmales Einzelpulssignal) wird erzeugt. Die GPIB-Schnittstelle und das Kabel werden verwendet, um das Ein-Puls-Signal auf dem Computer auf den AFG320-Signalgenerator zu speichern. DasPiezo -Disc -Sensorwird im Allgemeinen durch einen sehr schmalen Einzelpuls erkannt. Bearbeiten des erforderlichen Impulssignals auf dem Computer mit der US -amerikanischen Tektronix Proprietary Signal Bearbeitungssoftware. Seine Frequenz entspricht der zeitlichen Breite eines einzelnen Impulses, der zum Bereich des Ultraschallsignals gehört, und die Zeitbreite dieses einzelnen Impulses beträgt 0 625. Es kann auch in der AFG320 -Signalgenerator -Panel von Sony verwendet werden: Betreiben und bearbeiten Sie einige Signale, die Signalwellenform und die Frequenz sind begrenzt und einzelne Impulssignale können nur auf 100 kHz generiert werden. Die Verwendung des beliebigen Funktionssignalsgenerators selbst kann nicht bewegt werden, um ein ausreichend schmales Einzelimpulssignal zu erzeugen, das für den Test erforderlich ist, um dieses Problem ein sehr schmal Der Speicher des AFG320 -Signal -Pullers durch das GPIB -Kabel und die GPIB -Schnittstelle am PCI -Steckplatz des Computers. Das AFG320 -Signal hat vier unabhängige Signalerinnerungen. Das bearbeitete Signal kann im Speicher gespeichert werden. Der Test kann verwendet werden, um die vier Signale nach Bedarf zu trennen. Das Haupt-Einzelpulssignal von mehr als 1 MHz wird für die Struktur verwendet.
Geben Sie die Auswahl der einzelnen Impulssignale ein
  1. Das Impulssignal hat einen unterschiedlichen Riss-Anti-Injektionswelleneffekt in der Aluminiumplatte und Ausbreitung. Nach mehreren Experimenten wird festgestellt, dass der Rampenpuls eine bessere Wahl ist.


2 Verwenden des Wandlers für nicht zerstörerische Tests


Die A-Scan-Risserkennung und die Bestimmung der Rissbreite beheben die zwei piezoelektrischen Scheibe
Die Wandler übertragen und empfangen von den zehn Buchstaben auf derselben geraden Linie J, damit sie eine Reihe von Wandlergeräten für die Übertragung und Empfangen bilden. Unter Verwendung der Scan -Methode wird die Sendungs- und Empfangsvorrichtunggruppe von links zum Test -Reitmitglied verschoben. Durch die Analyse der gesammelten Testdaten kann der auf dem Teststück vorhandene Riss klar erkannt werden und die Breite des Risses wird bestimmt. Der Wert des Risses bewegt das Gerät von links nach rechts im Teststück. Wenn das Gerät in die linke Position verschoben wird, kann nur eine obere Kantenreflexion empfangen werden. Das erworbene Signal bewegt den Satz weiter nach rechts, wann sich in der Nähe von Punkt 2 (dem linken Scheitelpunkt des Risses) in die linke Position bewegt. Das gesammelte Signal. Es hat eine gekrümmte reflektierte Welle, die erste reflektierte Welle ist die crackreflektierte Welle, und die reflektierte Welle der oberen Kante des Teststücks der J-Ray-Welle wird reflektiert. Die Reflexionszeit der backreflektierten Welle ist kürzer als die Reflexionszeit der kantig reflektierten Welle. Wenn sich das Gerät weiter in den 3 -Bereich bewegt, kann das Erfassungssignal gesammelt werden und das Scannen wird fortgesetzt, und die elektrische Energie findet den rechten Scheitelpunkt des Risses. Wenn das Ende des Risss auftritt, ist es sofort im Piezo -Stück erhältlich. Markieren Sie die Endposition des Risses und bestimmen Sie die Rissbreite am Ende des von der linken Seite angezeigten Risses. Testen der Datenerfassung und -analyse -Software über GP. IB-Schnittstelle, die vom Computer gesammelten Daten können in Excel-Datei und anderen Multi-Daten-Formularen gespeichert werden, was für die Analyse und Verwendung sehr bequem ist. Die verwendete GP-IB-Schnittstelle ist eine GP-IB-Schnittstelle für den PCI-Steckplatz an einem Ende des Computers. Das digitale Oszilloskop TDS3034B selbst verfügt über ein GP-IB-Grenzflächenmodul. Das Testsystem kann auch eine langsame serielle RS-232-Schnittstelle verwenden.


Die Ultraschallwelle, die übertragen und empfangen wird, wird im Wellenmodus umgewandelt und die Querwelle (auch als Scherwelle bezeichnet) wird in der Aluminiumplatte übertragen. Die nicht zerstörerische Prüfung, dass die Querwelle nur nachstehend durchgeführt werden kann, ist die nicht-zerstörerische Prüfung der Methode zur Erkennung von Querwellenfehler. Die Methode zur Erkennung von Scherwellenfehler ist, dass die Schallwelle in einem bestimmten Winkel auf dem Werkstück fällt, um eine Wellenmusterumwandlung zu erzeugen, und die Querwelle propagiert sich in der Struktur. Eine Methode zur Erkennung struktureller Fehler unter Verwendung von Querwellen. Nachdem die Querwelle auf dem L-Stück fällt, wird die Schallwelle reflektiert, wenn der Defekt senkrecht zum Schallstrahl oder der Winkel groß ist. Eine Defektwelle wird auf dem Anzeigebildschirm angezeigt. Die PrüfungPiezo -Scheiben KristallVerwendet wurden hauptsächlich Aluminiumplatten. Die Ausbreitungsgeschwindigkeit der Querwelle im Aluminiumplattenaluminium beträgt 3100 m/s. Die Position des Risses kann berechnet und basierend auf der Übertragungszeit der Welle ermittelt werden, die vom mit dem Computer verbundenen GPIB erhalten wird.


Rissdetektion unter Verwendung von piezoelektrischen Keramikkristallmaterialien

Nicht-zerstörerische Tests unter Verwendung von piezoelektrischen Keramikkristallmaterialien zur Herstellung von PZT (Bleizirkonat-Fitanafe-Oxid. Dicke 0,191 mm: 430 NF-Kapazität; erschossen sein ist anders.


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